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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Baumann, Peter

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Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
3658265736
Verlag:
Springer-Verlag GmbH
Seitenzahl:
187
Auflage:
-
Erschienen:
2019-11-26
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Beschreibung

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Simulation mit PSPICE

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. von Baumann, Peter

Produktdetails

Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
187
Erschienen:
2019-11-26
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783658265731
ISBN:
3658265736
Verlag:
Springer-Verlag GmbH
Gewicht:
345 g
Auflage:
-
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Über den Autor

Baumann, Peter

Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.

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