Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films (Springer Series in Surface Sciences, Band 52)
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Beschreibung
"Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films" von Klaus-Jochen Eichhorn ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Anwendung der Ellipsometrie zur Untersuchung funktionaler organischer Oberflächen und Filme beschäftigt. Das Buch gehört zur Springer Series in Surface Sciences und bietet eine detaillierte Einführung in die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen der Ellipsometrie. Es behandelt die Prinzipien dieser optischen Messtechnik, die es ermöglicht, die Dicke und optische Eigenschaften dünner Filme präzise zu bestimmen. Darüber hinaus werden spezifische Anwendungsbeispiele aus der Forschung vorgestellt, bei denen funktionale organische Materialien, wie Polymere und Nanokomposite, analysiert werden. Durch einen interdisziplinären Ansatz richtet sich das Buch an Wissenschaftler und Ingenieure aus den Bereichen Materialwissenschaften, Physik, Chemie und Ingenieurwesen, die sich mit der Charakterisierung von Oberflächen und Dünnschichten beschäftigen.
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