Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
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Beschreibung
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications von Moises Padilla ist ein umfassendes Fachbuch, das sich auf die Anwendung der Fringe-Musteranalyse in der optischen Messtechnik konzentriert. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die Theorie und Algorithmen hinter dieser Technologie und zeigt, wie sie in verschiedenen Bereichen angewendet werden kann. Es deckt sowohl grundlegende Konzepte als auch fortschrittliche Themen ab und bietet praktische Beispiele und Fallstudien zur Demonstration. Ziel ist es, den Lesern ein tieferes Verständnis für diese Schlüsseltechnologie zu vermitteln und ihnen zu helfen, sie effektiv in ihrer Arbeit oder Forschung einzusetzen.
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