Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494)
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Beschreibung
"Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques" von Lawrence C. Wagner ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Analyse von Fehlfunktionen in integrierten Schaltkreisen beschäftigt. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über die verschiedenen Methoden und Werkzeuge, die zur Diagnose und Behebung von Problemen in Mikroelektronikbauteilen eingesetzt werden. Es behandelt sowohl traditionelle Techniken als auch moderne Ansätze und Technologien, um Fehlerquellen zu identifizieren und zu analysieren. Zudem werden Fallstudien präsentiert, die praktische Einblicke in die Anwendung dieser Techniken bieten. Das Buch richtet sich an Ingenieure, Forscher und Studierende im Bereich der Elektronik und Mikroelektronik, die ein tieferes Verständnis für die Herausforderungen und Lösungen bei der Fehleranalyse gewinnen möchten.
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