
Statistical Regression With Measurement Error (Kendall's Library of Statistics, 6)
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Beschreibung
"Statistical Regression With Measurement Error" von John W. Van Ness ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Problematik von Messfehlern in statistischen Regressionsanalysen auseinandersetzt. Das Buch gehört zur renommierten Kendall's Library of Statistics und bietet eine detaillierte Untersuchung der Auswirkungen von Messfehlern auf die Schätzung und Interpretation von Regressionsmodellen. Van Ness beginnt mit einer Einführung in die Grundlagen der Regressionstheorie und beschreibt, wie Messfehler in den erklärenden Variablen zu Verzerrungen und Ineffizienzen führen können. Er behandelt verschiedene Modelle und Methoden, um diese Probleme zu adressieren, einschließlich der klassischen Fehler-in-Variablen-Modelle und modernerer Ansätze. Das Buch bietet sowohl theoretische Einblicke als auch praktische Anwendungen, wobei es auf mathematische Rigorosität Wert legt. Zahlreiche Beispiele und Übungsaufgaben helfen dem Leser, die Konzepte besser zu verstehen und anzuwenden. Es richtet sich an Statistik-Studierende sowie an Fachleute aus den Bereichen Ökonomie, Biometrie und Ingenieurwissenschaften, die mit realen Daten arbeiten und die Genauigkeit ihrer Analysen verbessern möchten. Insgesamt ist "Statistical Regression With Measurement Error" ein wichtiges Nachschlagewerk für alle, die sich mit fortgeschrittener Regressionsanalyse beschäftigen müssen und nach Wegen suchen, um die Herausforderungen durch Messfehler zu meistern.
Produktdetails

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Über den Autor
- Kartoniert
- 148 Seiten
- Erschienen 2022
- Springer
- paperback
- 368 Seiten
- Erschienen 2016
- Que
- hardcover
- 398 Seiten
- Erschienen 2020
- Chapman and Hall/CRC
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- Erschienen 1989
- Verlag Harri Deutsch, Frank...
- Hardcover
- 184 Seiten
- Erschienen 2008
- Cambridge University Press
- hardcover
- 1096 Seiten
- Erschienen 2010
- The MIT Press
- Kartoniert
- 794 Seiten
- Erschienen 2015
- Routledge