Data Model Patterns: A Metadata Map (The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems)
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Beschreibung
"Data Model Patterns: A Metadata Map" von David C. Hay ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Strukturierung und Organisation von Datenmodellen beschäftigt. Das Buch bietet eine Sammlung von Mustern für die Erstellung effektiver und konsistenter Datenmodelle, die in verschiedenen Geschäftsbereichen anwendbar sind. Hay legt den Fokus auf die Bedeutung von Metadaten und deren Rolle bei der Verbesserung der Datenintegrität und -nutzung. Das Buch ist in mehrere Kapitel unterteilt, die unterschiedliche Aspekte der Datenmodellierung abdecken, darunter grundlegende Konzepte, spezifische Muster für Geschäftsprozesse wie Bestandsverwaltung, Personalwesen oder Finanzmanagement sowie Techniken zur Anpassung dieser Muster an individuelle Bedürfnisse. Durch zahlreiche Diagramme und Beispiele veranschaulicht Hay komplexe Ideen und macht sie für Praktiker in der IT- und Datenmanagementbranche zugänglich. Insgesamt dient das Buch als wertvolle Ressource für Datenarchitekten, Analysten und Entwickler, die robuste Dateninfrastrukturen entwerfen möchten. Es fördert ein tieferes Verständnis dafür, wie gut durchdachte Metadatenstrukturen zur Effizienzsteigerung und besseren Entscheidungsfindung beitragen können.
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