X-ray Diffraction Topography
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Beschreibung
"X-ray Diffraction Topography" von B. K. Tanner ist ein Fachbuch, das sich mit der Methode der Röntgenbeugungstopographie beschäftigt. Diese Technik wird verwendet, um die innere Struktur und Qualität von Kristallen zu untersuchen. Das Buch bietet eine umfassende Einführung in die theoretischen Grundlagen der Röntgenbeugung sowie detaillierte Erklärungen zur experimentellen Durchführung und den verschiedenen Analysetechniken. Es behandelt die Anwendung der Topographie zur Untersuchung von Defekten in Kristallen, wie Versetzungen und Einschlüssen, und zeigt auf, wie diese Informationen genutzt werden können, um Materialeigenschaften zu verbessern. Durch zahlreiche Abbildungen und Beispiele wird das Verständnis für die komplexen physikalischen Prozesse erleichtert. Das Werk richtet sich an Physiker, Materialwissenschaftler und Ingenieure, die in der Forschung oder Entwicklung tätig sind und vertiefte Kenntnisse über kristalline Materialien benötigen.
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