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Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung

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Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
9783826594496
Seitenzahl:
66 Seiten
Auflage:
-
Erschienen:
2001-10-16
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Beschreibung

Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung
Diese Beschreibung wurde mittels künstlicher Intelligenz generiert

Das Buch "Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung" von Eberhard Schmidt bietet einen fundierten Einblick in das Fachgebiet der Partikeltechnologie. Es behandelt grundlegende Aspekte wie die Charakterisierung von Partikeln, einschließlich ihrer Größe, Form und chemischen Zusammensetzung. Darüber hinaus erläutert das Buch verschiedene Methoden zur Abscheidung von Partikeln aus Gas- und Flüssigkeitsströmen. Dabei werden sowohl physikalische als auch chemische Verfahren berücksichtigt. Schmidt nutzt zahlreiche Diagramme und Beispiele, um die komplexen Konzepte zu verdeutlichen. Das Buch dient als nützliches Nachschlagewerk für Ingenieure, Wissenschaftler und Studenten im Bereich der Materialwissenschaften, Chemie und Physik.

Produktdetails

Einband:
Hardcover
Seitenzahl:
66 Seiten
Erschienen:
2001-10-16
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783826594496
ISBN:
9783826594496
Gewicht:
107 g
Auflage:
-
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