Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung
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Beschreibung
Das Buch "Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung" von Eberhard Schmidt bietet einen fundierten Einblick in das Fachgebiet der Partikeltechnologie. Es behandelt grundlegende Aspekte wie die Charakterisierung von Partikeln, einschließlich ihrer Größe, Form und chemischen Zusammensetzung. Darüber hinaus erläutert das Buch verschiedene Methoden zur Abscheidung von Partikeln aus Gas- und Flüssigkeitsströmen. Dabei werden sowohl physikalische als auch chemische Verfahren berücksichtigt. Schmidt nutzt zahlreiche Diagramme und Beispiele, um die komplexen Konzepte zu verdeutlichen. Das Buch dient als nützliches Nachschlagewerk für Ingenieure, Wissenschaftler und Studenten im Bereich der Materialwissenschaften, Chemie und Physik.
Produktdetails
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Über den Autor
- Hardcover
- 844 Seiten
- Erschienen 1990
- De Gruyter
- Hardcover
- 1128 Seiten
- Erschienen 2005
- De Gruyter
- paperback
- 411 Seiten
- Erschienen 2005
- Wiley-VCH