Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung
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Beschreibung
Das Buch "Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung" von Eberhard Schmidt bietet einen fundierten Einblick in das Fachgebiet der Partikeltechnologie. Es behandelt grundlegende Aspekte wie die Charakterisierung von Partikeln, einschließlich ihrer Größe, Form und chemischen Zusammensetzung. Darüber hinaus erläutert das Buch verschiedene Methoden zur Abscheidung von Partikeln aus Gas- und Flüssigkeitsströmen. Dabei werden sowohl physikalische als auch chemische Verfahren berücksichtigt. Schmidt nutzt zahlreiche Diagramme und Beispiele, um die komplexen Konzepte zu verdeutlichen. Das Buch dient als nützliches Nachschlagewerk für Ingenieure, Wissenschaftler und Studenten im Bereich der Materialwissenschaften, Chemie und Physik.
Produktdetails
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Über den Autor
- hardcover
- 330 Seiten
- Erschienen 1982
- De Gruyter
- Hardcover -
- Erschienen 2008
- Wiley-VCH
- Hardcover -
- Erschienen 2005
- Wiley-VCH
- paperback
- 292 Seiten
- Erschienen 1993
- Springer Berlin Heidelberg
- Kartoniert
- 232 Seiten
- Erschienen 2020
- Springer Spektrum
- Gebunden
- 228 Seiten
- Erschienen 2004
- Springer
- paperback
- 607 Seiten
- Erschienen 2007
- Oldenbourg Wissenschaftsverlag
- Kartoniert
- 112 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Hardcover
- 325 Seiten
- Erschienen 2010
- Vieweg+Teubner Verlag
- Gebunden
- 648 Seiten
- Erschienen 2009
- De Gruyter Oldenbourg
- Gebunden
- 380 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer




