Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung
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Beschreibung
Das Buch "Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung" von Eberhard Schmidt bietet einen fundierten Einblick in das Fachgebiet der Partikeltechnologie. Es behandelt grundlegende Aspekte wie die Charakterisierung von Partikeln, einschließlich ihrer Größe, Form und chemischen Zusammensetzung. Darüber hinaus erläutert das Buch verschiedene Methoden zur Abscheidung von Partikeln aus Gas- und Flüssigkeitsströmen. Dabei werden sowohl physikalische als auch chemische Verfahren berücksichtigt. Schmidt nutzt zahlreiche Diagramme und Beispiele, um die komplexen Konzepte zu verdeutlichen. Das Buch dient als nützliches Nachschlagewerk für Ingenieure, Wissenschaftler und Studenten im Bereich der Materialwissenschaften, Chemie und Physik.
Produktdetails
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Über den Autor
- Hardcover -
- Erschienen 2007
- Springer
- Gebunden
- 1067 Seiten
- Erschienen 2022
- De Gruyter Oldenbourg
- paperback
- 300 Seiten
- Erschienen 2024
- Springer
- Kartoniert
- 278 Seiten
- Erschienen 2002
- Springer
- Gebunden
- 538 Seiten
- Erschienen 2020
- Springer Vieweg
- Gebunden
- 492 Seiten
- Erschienen 2014
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 325 Seiten
- Erschienen 2010
- Vieweg+Teubner Verlag
- Kartoniert
- 334 Seiten
- Erschienen 2021
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 380 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Kartoniert
- 192 Seiten
- Erschienen 2020
- De Gruyter Oldenbourg




