Automatische Sichtprüfung

Name: Automatische Sichtprüfung
Price: 99.99 EUR
Availability: InStock
Author: Beyerer, Jürgen und Puente León, Fernando und Frese, Christia
ISBN: 3662477858

Beyerer, Jürgen und Puente León, Fernando und Frese, Christia

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Kurzinformation

Sprache:

Deutsch

ISBN:

3662477858

Verlag:

Springer-Verlag GmbH

Seitenzahl:

975

Auflage:

Erschienen:

2016-10-08

Dieser Artikel steht derzeit nicht zur Verfügung!

Gebrauchte Bücher kaufen

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, unbenutzten Zustand.

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können leichte Gebrauchsspuren aufweisen.

Information

Das Buch befindet sich in einem guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können Knicke/Gebrauchsspuren aufweisen.

Information

Das Buch befindet sich in einem lesbaren Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt, jedoch weisen Buchrücken/Ecken/Kanten starke Knicke/Gebrauchsspuren auf. Zusatzmaterialien können fehlen.

Neues Buch oder eBook (pdf) kaufen

Information

Neuware - verlagsfrische aktuelle Buchausgabe.

Neu bei

bestellen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Schnelle Lieferung

Faire Preise

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Weitere Zahlungsmöglichkeiten

Beschreibung

Automatische Sichtprüfung

Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung

Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle gängigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar. Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind. Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenhänge wirklich versteht und das "große Bild" des Fachgebietes erkennt. Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verständnis keiner ergänzenden Literatur. Die 2. Auflage wurde gründlich überarbeitet, inhaltlich ergänzt und aktualisiert. Neue Beispiele verdeutlichen den Bezug zur Praxis. Die Zielgruppen Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik. von Beyerer, Jürgen und Puente León, Fernando und Frese, Christia

Produktdetails

Einband:

Gebunden

Seitenzahl:

975

Erschienen:

2016-10-08

Sprache:

Deutsch

EAN:

9783662477854

ISBN:

3662477858

Verlag:

Springer-Verlag GmbH

Gewicht:

2025 g

Auflage:

Alle gebrauchten Bücher werden von uns handgeprüft.
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.

Über den Autor

Beyerer, Jürgen und Puente León, Fernando und Frese, Christia

Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer hat mit einer Arbeit zur Texturanalyse und damit auf dem Gebiet Bildverarbeitung 1994 promoviert, habilitierte sich im Jahr 1994 auf dem Gebiet Messtechnik und leitete 5 Jahre lang ein Kleinunternehmen, das Automatische Sichtprüfung im industriellen Umfeld einsetzte und innovative Systeme entwickelte. Seit 2004 ist Prof. Beyerer Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, eines Schwerpunktinstituts der Fraunhofer-Gesellschaft zum Thema Bildauswertung in Karlsruhe. Ebenfalls seit 2004 hat er den Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (Vision and Fusion Lab) im Institut für Anthropomatik am KIT inne, das sich intensiv mit Fragen der Bildgewinnung und -auswertung auseinandersetzt. Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León studierte Elektrotechnik an der Universität Karlsruhe (TH). Nach seiner Promotion auf dem Gebiet der Bildauswertung übernahm er am Institut für Mess- und Regelungstechnik der Universität Karlsruhe die Leitung der Forschungsgruppe "Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung". Ab 2001 war er bei der Firma DS2 im Bereich der Signalverarbeitung als Gruppenleiter tätig. Zum April 2003 wurde er auf die Professur für Verteilte Messsysteme an der TU München berufen, wo er das Fachgebiet "Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung" in Forschung und Lehre vertrat. Seit Oktober 2008 leitet er das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) am KIT. Er ist Mitglied des wissenschaftlichen Beirats der Fraunhofer-Allianz Vision und der AMA sowie der Fachzeitschriften Information Fusion, Metrology & Measurement Systems und Transactions on Systems, Signals and Devices. Christian Frese hat sich bereits während seines Studiums der Informatik intensiv mit dem Thema Bildverarbeitung beschäftigt. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter hat er Einblick in aktuelle Forschungsarbeiten zur automatischen Sichtprüfung, Bildverarbeitung und -auswertung erhalten und war selbst an Projekten zur Auswertung von Stereobildserien beteiligt. Er hat ca. 20 wissenschaftliche Veröffentlichungen in den Bereichen mobile Robotik und Bildverarbeitung verfasst, die Mehrzahl davon als Erstautor.