Characterization of Condensed Matter: An Introduction to Composition, Microstructure, and Surface Methods

"Characterization of Condensed Matter: An Introduction to Composition, Microstructure, and Surface Methods" von Qingwei Liao ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den grundlegenden Methoden und Techniken zur Charakterisierung von kondensierter Materie befasst. Das Buch bietet eine Einführung in die verschiedenen Verfahren zur Bestimmung der Zusammensetzung, Mikrostruktur und Oberflächeneigenschaften von Materialien. Es deckt eine breite Palette von Themen ab, darunter Röntgenbeugung (XRD), Elektronenmikroskopie (SEM und TEM), Atomkraftmikroskopie (AFM) sowie spektroskopische Methoden wie Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Augerelektronenspektroskopie (AES). Jedes Kapitel erläutert die theoretischen Grundlagen der jeweiligen Methode, ihre praktischen Anwendungen und die Interpretation der Ergebnisse. Das Buch richtet sich an Studierende der Materialwissenschaften, Physik und Ingenieurwissenschaften sowie an Fachleute in Forschungslabors. Mit zahlreichen Abbildungen und Beispielen aus der Praxis bietet es sowohl einen fundierten Überblick als auch detaillierte Einblicke in die moderne Materialcharakterisierung.