Statistical Analysis of Panel Count Data (Statistics for Biology and Health, 80, Band 80)

Name: Statistical Analysis of Panel Count Data (Statistics for Biology and Health, 80, Band 80)
Price: 106.99 EUR
Availability: InStock
Author: Zhao, Xingqiu und Sun, Jianguo
ISBN: 1461487145

Zhao, Xingqiu und Sun, Jianguo

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Kurzinformation

Sprache:

Englisch

ISBN:

1461487145

Verlag:

Springer

Seitenzahl:

288

Auflage:

Erschienen:

2013-10-10

Dieser Artikel steht derzeit nicht zur Verfügung!

Gebrauchte Bücher kaufen

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, unbenutzten Zustand.

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können leichte Gebrauchsspuren aufweisen.

Information

Das Buch befindet sich in einem guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können Knicke/Gebrauchsspuren aufweisen.

Information

Das Buch befindet sich in einem lesbaren Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt, jedoch weisen Buchrücken/Ecken/Kanten starke Knicke/Gebrauchsspuren auf. Zusatzmaterialien können fehlen.

Neues Buch oder eBook (pdf) kaufen

Information

Neuware - verlagsfrische aktuelle Buchausgabe.

Bestellen bei

Neu bestellen bei

Handgeprüfte Gebrauchtware

Schnelle Lieferung

Faire Preise

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Weitere Zahlungsmöglichkeiten

Beschreibung

Statistical Analysis of Panel Count Data (Statistics for Biology and Health, 80, Band 80)

Diese Beschreibung wurde mittels künstlicher Intelligenz generiert

"Statistical Analysis of Panel Count Data" von Xingqiu Zhao ist ein Fachbuch, das sich mit der statistischen Analyse von Panel-Daten beschäftigt, die in vielen Bereichen wie Biologie und Gesundheitswissenschaften relevant sind. Panel-Daten bestehen aus mehreren Beobachtungen über dieselben Einheiten zu verschiedenen Zeitpunkten. Das Buch bietet eine umfassende Einführung in die Methoden zur Analyse solcher Daten, einschließlich theoretischer Grundlagen und praktischer Anwendungen. Es behandelt verschiedene Modelle und Ansätze zur Analyse von Panel-Daten, darunter semiparametrische Modelle und nichtparametrische Verfahren. Zhao diskutiert auch die Herausforderungen bei der Arbeit mit unvollständigen oder fehlenden Daten sowie Möglichkeiten zur Modellvalidierung und -bewertung. Das Buch richtet sich an Statistiker und Forscher im Bereich der Biowissenschaften, die mit longitudinalen Daten arbeiten, sowie an fortgeschrittene Studenten, die ein tiefes Verständnis für diese speziellen statistischen Methoden entwickeln möchten.

Produktdetails

Einband:

Gebunden

Seitenzahl:

288

Erschienen:

2013-10-10

Sprache:

Englisch

EAN:

9781461487142

ISBN:

1461487145

Verlag:

Springer

Gewicht:

600 g

Auflage:

Alle gebrauchten Bücher werden von uns handgeprüft.
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.

Über den Autor

Zhao, Xingqiu und Sun, Jianguo

Jianguo (Tony) Sun is a professor at the Department of Statistics of the University of Missouri. He obtained his Ph.D. at the University of Waterloo and has been developing novel statistical methods for the analysis of interval-censored failure time data and panel count data over the last 20 years. In particular, he published "The Statistical Analysis of Interval-censored Failure Time Data" (Springer, 2006), the first book on interval-censored data. He also co-authored with Drs. Chen and Peace the volume "Interval-censored Time-to-Event Data: Methods and Applications" (Chapman and Hall, 2012). Xingqiu Zhao is a faculty member of The Hong Kong Polytechnic University and she obtained her Ph.D. at McMaster University. Her research interests include econometrics, financial mathematics, longitudinal data analysis, stochastic process models and applications, survival analysis, and time series analysis. In particular, she has published many papers on new statistical inference procedures for analyzing interval-censored failure time data, recurrent event data and panel count data.